低頻非密封電連接器在軍用電子設(shè)備中應(yīng)用廣泛，其可靠性直接影響設(shè)備正常運(yùn)行。當(dāng)周?chē)諝鉂穸冉咏柡?，或由于金屬與環(huán)境中的低溫物體進(jìn)行換熱時(shí)，金屬表面易產(chǎn)生凝露，導(dǎo)致電連接器絕緣性下降。大氣中的氮化物、硫化物，與水汽結(jié)合形成鹽溶液對(duì)金屬表面形成電解腐蝕。當(dāng)金屬表面鍍層致密度不高呈現(xiàn)較多孔隙時(shí)，為鹽溶液電解蝕提供微電池場(chǎng)所，金鍍層與中間鍍層電位差越大，電解腐蝕越嚴(yán)重。軍用電子設(shè)備工作環(huán)境復(fù)雜多變，低頻非密封電連接器自身密封等級(jí)不高，高溫、濕熱、鹽霧等惡劣因素侵害導(dǎo)致電連接器故障頻發(fā)。

目前，部分電連接器采用了密封結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，提高了電連接器在潮濕環(huán)境下的可靠性。對(duì)裝備來(lái)說(shuō)，電連接器密封升級(jí)替換工作涉及范圍廣、難度高。為了探究非密封電連接器密封防護(hù)技術(shù)，本文以低頻圓形電連接器為例，對(duì)電連接器尾部密封工藝、插合面密封工藝進(jìn)行了研究，通過(guò)環(huán)境試驗(yàn)、電絕緣性能測(cè)試對(duì)密封效果進(jìn)行了驗(yàn)證，針對(duì)不同工況提出了電連接器密封防護(hù)推薦辦法。

濕氣、鹽霧等與電連接器內(nèi)導(dǎo)體的接觸，是導(dǎo)致電連接器失效故障的主要原因。低頻非密封電連接器典型結(jié)構(gòu)形式如圖1所示，分析該結(jié)構(gòu)可知，外界水汽、鹽霧主要通過(guò)電連接器尾部和插合面兩個(gè)路徑進(jìn)入殼體，并在內(nèi)導(dǎo)體表面附著。電連接器尾部空隙大，電連接器內(nèi)導(dǎo)體、電纜芯線近乎裸露在外界環(huán)境之中;電連接器插合面空隙并不明顯，濕氣一旦進(jìn)入容易積聚不易消散，對(duì)電連接器造成長(zhǎng)期傷害。

電連接器